製品情報 太陽電池・電子・半導体分野

検査測定装置

■電子部品用

FV100C

写真：FV100C

パワーモジュール用途やサーモモジュール用途等の
セラミック基板に発生するクラックや汚れ、オーバーエッチング、
パターンショート等の欠陥検査に最適な外観検査装置です。
平面的な欠陥検出に加え、膨れや凹みといった立体的な欠陥も検出します。
対象ワーク ： パワーモジュール用セラミック基板、
サーモモジュール用セラミック基板、
通信機器用セラミック基板、ＬＥＤ用セラミック基板

NS2000S

写真：NS2000S

個片化されたMPU基板、CPU基板、FCBGA基板等の
各種パッケージ基板の最終外観検査を自動で行う検査装置です。
画像処理による欠陥検査が可能で外観検査工程の自動化を実現します。
対象ワーク ： MPU基板、CPU基板、FCBGA基板

NS1800IS

写真：NS1800IS

各種イメージセンサの出荷前自動外観検査を行います。
ガラス封止後の出荷前製品の素子面・ケース内面・ワイヤ接合部・ガラス面
それぞれにジャストフォーカスし微細な異物や欠陥を検出する事が可能です。
裏面の捺印検査やＱＲコード認識も対応しており、
製品のトレース管理も行えます。
対象ワーク ： 各種イメージセンサ
監視カメラ用（挿入型）、DSC用（SMT型）、CCD素子、CMOS素子